Microscopio elettronico a scansione

Microscopio elettronico a scansione

ZEISS EVO MA10

ZEISS EVO MA10 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) ad alta risoluzione. Trova applicazione in diversi ambiti, in particolare nelle scienze dei materiali.

Questo strumento consente di analizzare il materiale dei campioni, osservandone i difetti ed eventuali fratture meccaniche. Inoltre, esegue lo studio di materiali ingegnerizzati, leghe, rivestimenti e nanostrutture multistrato. E’ possibile ottenere informazioni topografiche dai campioni grazie al rilevatore degli elettroni secondari per alto vuoto e informazioni sulla composizione grazie al rilevatore degli elettroni retro-diffusi per alto e basso vuoto.

ZEISS EVO MA10 opera sia ad alto vuoto, sia a pressione variabile, consentendo così l’analisi di tutti i materiali, siano essi conduttivi e non conduttivi. È inoltre dotato di Bruker QUANTAX 200, un sistema avanzato di microanalisi per dispersione di energia (EDS) che fornisce i dati qualitativi e semi-quantitativi del campione da analizzare. Inoltre, è possibile eseguire profili di scansione e mappature elementari.