Microscopio a scansione elettronica

Microscopio a scansione elettronica

ZEISS EVO MA10

ZEISS EVO MA10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta risoluzione. Trova applicazione in diversi ambiti, in particolare nelle scienze dei materiali.

Questo strumento consente di analizzare il campione di materiale, inclusi i difetti e le fratture metalliche. Inoltre, esegue lo studio di materiali ingegnerizzati, quali leghe, rivestimenti e nanostrutture multistrato. E’ possibile ottenere informazioni topografiche dai campioni grazie al rilevatore elettronico secondario per alto vuoto e informazioni sulla composizione grazie al rilevatore elettronico con retrodiffusione per alto e basso vuoto.

ZEISS EVO MA10 opera sia ad alto vuoto, sia a pressione variabile, consentendo così l’analisi di tutti i materiali conduttori o non conduttori. È inoltre dotato di un Bruker QUANTAX 200, un sistema di microanalisi per dispersione di energia (EDS) avanzato che fornisce i dati qualitativi e semi-quantitativi del campione da analizzare. Inoltre, è possibile eseguire profili di scansione, mappatura elementare e scansione ad alta risoluzione.