ZEISS EVO MA10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta risoluzione. Trova applicazione in diversi ambiti, in particolare nelle scienze dei materiali.
Lo strumento consente di analizzare campioni di materiale massivo o con rivestimenti, fratture su piccoli componenti (failure analysis).
Inoltre, esegue lo studio di materiali ingegnerizzati, quali leghe, rivestimenti e nanostrutture multistrato. È possibile ottenere informazioni topografiche dai campioni grazie al rilevatore elettronico secondario per alto vuoto e informazioni sulla composizione grazie al rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSE) per alto e basso vuoto.
ZEISS EVO MA10 opera sia ad alto vuoto, sia a pressione variabile, consentendo così l’analisi di tutti i materiali sia conduttivi che non conduttivi.
È inoltre dotato di un Bruker QUANTAX 200, un sistema di microanalisi basata sulla spettroscopia a dispersione di energia (EDS) avanzato che fornisce i dati qualitativi e semi-quantitativi del campione da analizzare.
È anche possibile eseguire analisi chimiche su profili per determinare i gradienti composizionali, o mappatura di elementi su immagini bidimensionali, utili per associare fasi e composizione.
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