Electron

Lo strumento FEI Helios Nanolab 600 combina un microscopio elettronico a scansione (SEM) con un fascio ionico focalizzato (FIB). Consente la caratterizzazione dei materiali in 2D e 3D (tomografia), la preparazione dei campioni TEM (lamelle), l’osservazione della sottosuperficie dei campioni (immagini in sezione) e la modifica strutturale delle superfici su scala micrometrica e nanometrica. Questa tecnica viene utilizzata nell'industria dei semiconduttori, nella scienza dei materiali e, sempre più spesso, in campo biologico per l'analisi, la deposizione e l'ablazione di materiali in modo specifico. Per i suoi costi elevati e per l’alto livello di specializzazione che richiede nell'utilizzo e nell'interpretazione dei risultati, questo microscopio è presente in Italia in pochi Centri di Ricerca. Per le sue potenzialità, è oggi uno strumento indispensabile nelle moderne strutture di caratterizzazione.